Applikationsbeispiele in der optischen Industrie

Schichtdickenmessung
Die berührungslose und zerstörungsfreie Messung von dünnen Schichten ist mittels Spektroskopie auf verschiedene Art und Weise möglich. Eine Variante ist die Auswertung der Weißlichtinterferenz. Auf diese Weise können transparente Einfach- und Doppelschichten von 0,1 bis ca. 150 µ Dicke ermittelt werden. Desweiteren findet man bei Antireflexbeschichtungen häufig λ/4 Schichten, welche spektroskopisch sehr gut zu charakterisieren sind. tec5 hat mit seinen Kunden schon zahlreiche Applikationen mit unterschiedlichen Messmethoden realisiert.

Messung am Rollenband
Die Aufgabe eines Kunden bestand darin, die Reflexions- und Transmissionseigenschaften von beschichteten Flachgläsern auf dem Rollenband an exakt gleicher Position zu vermessen. Dies ist zur genauen Bestimmung der Schichtdicke nötig. Die Endprüfung verschiedener Produkte, mit sehr niedrigen und hohen Transmissionen und Reflexionen, erfordert zudem den hohen Dynamikbereich der tec5 Systeme.

Transmission und Reflexion
In der optischen Spektroskopie wird im Allgemeinen die Wechselwirkung eines Objektes mit Licht untersucht. Diese Wechselwirkung wird in sogenannten Spektren dargestellt.
Es wird generell zwischen Transmissions- und Reflexionsaufbau unterschieden.
Entscheidend ist oft die Auswahl der geeigneten Messgeometrie. Diese ist häufig auch durch bestehende Normen vorgegeben.
tec5 bietet für viele Messanordnungen fertige Systeme mit verschiedenen optimierten Messköpfen an.

Vakuumbeschichtung
Qualitätsüberprüfungen während des Produktionsablaufes, hier am Beispiel der Vakuumbeschichtung, erfordern einen besonders robusten Messaufbau, der den dort herrschenden Umgebungsbedingungen angepasst ist und eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit der Messergebnisse über lange Zeiträume gewährleistet. Um lange Standzeiten zu vermeiden, sollten optische Messaufbauten dort einfach und betriebssicher sein. tec5 Systeme garantieren den langzeitstabilen Betrieb innerhalb der Vakuumkammer.