Mit Hilfe der "Weißlichtinterferenz"
kann mit einfachen Mitteln an transparenten Schichten
die Schichtdicke zerstörungs- und berührungsfrei
bestimmt werden.
Ein Interferenzspektrum entsteht, wenn sowohl an der Ober-
als auch an der Unterseite der dünnen transparenten
Schicht das eingestrahlte Licht reflektiert wird und sich
die Wellen der beiden reflektierten Strahlen überlagern.
Aus dem entstehenden Interferenzmuster kann die Schichtdicke
berechnet werden. Auf diese Weise können Dicken von
ca. 0.1 bis 150µm bestimmt werden (in Abhängigkeit
von dem eingesetzten Spektrometermodul).
Schichtdicke eine λ/4 Schicht
Antireflexbeschichtungen werden in der optischen Industrie häufig zur Veredelung der
Glasoberfläche eingesetzt. Ein weit verbreitetes Beispiel sind veredelte Brillengläser.
Das Prinzip der Antireflexbeschichtung wird auch in der Solarindustrie eingesetzt.
Die sog. Absorberschichten auf Solarzellen sollen die Rückreflexion von Licht verhindern und somit
die Effektivität steigern. In der Optik heißen diese Schichten λ/4 Schichten. Sie können mit Hilfe von Spektroskopie
schnell und einfach gemessen werden.
Die MultiSpec Spektrometersysteme von tec5 werden für diese spezielle Applikation in der Industrie schon mehrfach eingesetzt.
Die MultiSpec Pro Software extrahiert aus den Spektren die nötigen Daten, verrechnet diese automatisch und stellt sie als
Result dar.
